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產(chǎn)品中心低溫物理設(shè)備磁電測(cè)量設(shè)備Microscopy顯微光學(xué)超導(dǎo)磁體系統(tǒng)
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
Janis Microscopy顯微光學(xué)超導(dǎo)磁體系統(tǒng)被設(shè)計(jì)用于與ST-500型高穩(wěn)定性顯微光學(xué)低溫恒溫器一起使用，實(shí)現(xiàn)在7 T磁場(chǎng)及3.5 K~420 K變溫環(huán)境中的顯微光學(xué)測(cè)量。
產(chǎn)品分類
Janis Microscopy顯微光學(xué)超導(dǎo)磁體系統(tǒng)被設(shè)計(jì)用于與ST-500型高穩(wěn)定性顯微光學(xué)低溫恒溫器一起使用，實(shí)現(xiàn)在7 T磁場(chǎng)及3.5 K~420 K變溫環(huán)境中的顯微光學(xué)測(cè)量。該系統(tǒng)配備用于樣品掃描和聚焦的X-Y-Z平移臺(tái)，可在低溫強(qiáng)磁場(chǎng)下的進(jìn)行顯微拉曼、熒光、磁光克爾等多種光譜測(cè)試。
主要特征
? 7T垂直孔徑超導(dǎo)磁體
? 室溫孔內(nèi)徑42毫米
? 超低振動(dòng)ST-500顯微鏡低溫恒溫器
? 溫度范圍：3.5~325K（420K可選）
? 高精度XYZ三軸平臺(tái)
? 可測(cè)試直徑為16mm的樣品
? 低溫強(qiáng)磁場(chǎng)顯微拉曼、熒光、MOKE
標(biāo)準(zhǔn)Microscopy主要參數(shù)
樣品環(huán)境 | 運(yùn)行溫度 | 磁場(chǎng)大小 | 光學(xué)通道 |
真空/超高真空 | 3.5 K ~ 325 K | 0 ~ 7 T | ? |
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